Secondary ion mass spectrometry 次離子質譜學 與 Cameca NS50

二次離子質譜術與超淺接面分析
奈米通訊 (中文)
潘扶民-國家奈米元件實驗室

http://www.ndl.narl.org.tw/cht/ndlcomm/P5_3/8.htm

Cameca SIMS instruments overview.

Cameca NanoSIMS 50 booklet.